電磁鐵的磁芯材質:軟鐵還是硬鐵電磁鐵的磁芯通常采用軟鐵材質,因其具有高磁導率和低矯頑力,使得電磁鐵能夠在通電時迅速產生強磁場,斷電后磁場又能迅速消失。一、電磁鐵與磁芯材質電磁鐵是一種利用電流產生磁場的裝置。其核心部件——磁芯,對電磁鐵的性能有著至關重要的影響。在選擇磁芯材質時,需...
點擊詳情2025
2.18手動探針臺、半自動探針臺和全自動探針臺是三種不同類型的探針臺,它們在使用類型、功能、操作方式和價格等方面都有所不同。手動探針臺是一種手動控制的探針臺,通常用于沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下。該類探針臺的優點是靈活、可變性高,易于配置環境和轉換測試環境,并且不需要涉及額外培訓和設置時間的電子設備、PC或軟件。手動探針臺系統只需要少量的培訓,因此非常適合研發人員使用。半自動探針臺是一種半自動控制的探針臺,可以在沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下使用。與...
點擊詳情2024
3.2晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進行針測,在檢測頭裝上以金線制成細如毛發之探針(probe),與晶粒上的接點(pad)接觸,測試其電氣特性,不合格的晶粒會被標上記號,而后當晶片依晶粒為單位切割成獨立的晶粒時,標有記號的不合格晶粒會被洮汰,不再進行下一個制程,以免徒增制造成本。在晶圓制造完成之后,晶圓測試是一步非常重要的測試。這步測試是晶圓生產過程的成績單。在測試過程中,每一個芯片的電性能力和電路機能都被檢測到。晶圓測試也就是芯片測試(diesort)或晶圓電測(wafersort...
點擊詳情2024
3.2探針臺將晶圓或芯片固定在安裝在平臺上的卡盤上,該平臺允許將DUT定位在顯微鏡視野的中心。機械手放置在平臺的平面上,并在機械手中插入探針臂和jian端。探頭jian端必須適合要執行的測試程序。然后,用戶通過調整相應的操縱器將探針jian端精確定位在設備內的正確位置。然后通過降低壓板使探針與晶片接觸;現在可以測試該設備。對于具有多個器件的晶圓,在測試第一個器件后,可以升起壓板并將支撐晶圓的平臺移動到下一個器件。重復定位探針jian端的過程,直到測試完所有必需的設備。這個過程都可以...
點擊詳情2024
3.2晶圓探針臺是一種成熟的工具,用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設備。探針臺允許用戶將電子、光學或射頻探針放置在設備上,然后測試該設備對外部刺激(電子、光學或射頻)的響應。這些測試可以很簡單,例如連續性或隔離檢查,也可以更復雜,涉及復雜微電路的全功能測試。探針臺可以在整個晶圓上或被鋸成單個芯片后運行測試。整個晶圓級的測試允許制造商在整個生產過程的不同階段多次測試設備,并密切監控制造以查看是否存在任何缺陷。在最終封裝之前對單個芯片進行測試可以將有缺陷的器件從流通中移除,...
點擊詳情2024
3.2手動位移臺系列產品主要用于對物體進行平移、升降、旋轉、角位等六個空間自由度調整,適用于自動化程度不高且調整不頻繁的應用.精密位移滑臺復坦希專業生產的位移臺系列產品包括平移臺,升降臺,旋轉臺,傾斜臺,角位臺、整體式多軸位移臺等;一,手動位移平臺的用途:位移臺主要分為電動位移臺和手動位移臺。位移臺因其高精度、可控性強、實用性高、維護簡單、因而廣泛應用于科研、激光應用、全自動計量檢測儀器設備、工業自動化等領域;以及實現真空、污染、無菌、輻射等環境下的位移控制。二:手動位移臺產品分類...
點擊詳情2024
2.27手動探針臺是一種手動控制的探針臺,通常用于沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下。該類探針臺的優點是靈活、可變性高,易于配置環境和轉換測試環境,并且不需要涉及額外培訓和設置時間的電子設備、PC或軟件。手動探針臺系統只需要少量的培訓,因此非常適合研發人員使用。1.將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關,使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移...
點擊詳情2024
2.27探針臺廣泛應用于半導體、光電以及集成電路等行業,用于測試、調試和維修電子設備、電路板和芯片。探針臺具有以下優勢:1.能夠確保相關產品研發的質量。2.能夠有效縮短研發時間和資金成本。3.可以縮減器件的制作工藝成本。4.具有更加可靠和省時省力的優勢,可以縮減器件的制作工藝成本。5.可以在真空條件下操作,提高了測試的準確度。6.具有高剛性的硅片承載臺和高精度的探針控制系統,有效提高了測試精度。7.可選配接入光纖,可將一根或幾根電學探針替換為光纖,提高了測試靈活性。8.具有優良的直流...
點擊詳情2024
2.27探針臺是一種精密的電子測試設備,主要用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。探針臺的主要功能是進行精密電氣測量,以確保產品質量和可靠性,同時也能縮減研發時間和降低制造工藝的成本。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試,實現更加精確的數據測試測量。探針臺通常包括載物臺、光學元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分。此外,探針臺也用于網絡測量的工具,可...
點擊詳情2024
2.27