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  • JMTS-816磁光克爾效應測量系統高靈敏磁強計磁性測量

    磁光克爾效應測量系統高靈敏磁強計磁性測量 非接觸式測量,是一種無損測量系統;可以測量同一樣品厚度不等的楔形磁性薄膜。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1111 更新日期:2024-07-23
  • JMTS-816測量系統磁光效應原理分辨率(δ)0.001度

    測量系統磁光效應原理分辨率(δ)0.001度 起偏/檢偏器:格蘭-湯普森棱鏡,外徑25.4mm,通光孔徑10mm,消光比5*10^-5,角度范圍14~16°,波長范圍350~2300nm。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1119 更新日期:2024-07-24
  • JMTS-816磁光克爾效應測量系統磁學測量儀器

    磁光克爾效應測量系統磁學測量儀器 可測試材料:記錄磁頭,磁性薄膜,特殊磁介質,磁場傳感器 。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1323 更新日期:2024-07-24
  • JMTS-816磁光克爾效應測量系統磁強計樣品磁性測量

    磁光克爾效應測量系統磁強計樣品磁性測量 廣泛應用于諸如磁性納米技術、自旋電子學、磁性薄膜、磁性隨機存儲器、GMR/TMR等磁學領域。

    廠商性質:生產廠家 點擊量:1220 更新日期:2024-07-26
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